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  • TableXAFS
    TableXAFS

    TableXAFS是一種實驗室級小型化X射線吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)分析設(shè)備,能夠在常規(guī)實驗室內(nèi)完成材料的局域原子結(jié)構(gòu)表征,其核心特點是擺脫對同步輻射光源的依賴,通過緊湊設(shè)計和高性能組件集成,實現(xiàn)與大型同步輻射裝...

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  • CT型真空紫外光譜儀
    CT型真空紫外光譜儀

    CT型真空紫外光譜儀具備較高的靈敏度和分辨率,能夠精確測量微弱的光譜信號,揭示物質(zhì)更細(xì)微的結(jié)構(gòu)和性質(zhì)。其次,該儀器具備較寬的波長覆蓋范圍,可以覆蓋從近紫外到真空紫外區(qū)域的多個波長范圍,滿足各種研究需求...

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  • NIM型真空紫外光譜儀
    NIM型真空紫外光譜儀

    真空紫外光譜儀采用Seya- Namioka光路結(jié)構(gòu),入射狹縫和CCD探測器位于羅蘭圓上,可以單色模式和光譜模式切用 。

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  • ?分辨平場光譜儀
    ?分辨平場光譜儀

    ?分辨平場光譜儀,采?全息凹球?變線距光柵進?分光,具有平場特性,便于使??陣CCD記錄光譜。光柵?作在掠?射模式下,衍射效率?,同時通過選?不同的光柵型號,可以實現(xiàn)波?范圍1~30nm的全覆蓋。

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  • 平場光譜儀
    平場光譜儀

    平場光譜儀,采用全息凹球面變線距光柵進行分光,具有平場特性,便于使用面陣CCD記錄光譜。光柵工作在掠入射模式下,衍射效率高,同時通過選用不同的光柵型號,可以實現(xiàn)波長范圍0.6~200nm的全覆蓋。

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  • RapidXAFS
    RapidXAFS

    RapidXAFS主要測量元素K/L吸收邊及其附近的吸收率變化,廣泛應(yīng)用于診斷材料的局域特性,例如核心原子的價態(tài)、 配位數(shù)、位形與鍵長。

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  • 原位X射線吸收光譜
    原位X射線吸收光譜

    原位X射線吸收光譜通過在反應(yīng)過程中實時監(jiān)測吸收邊的近邊(XANES)和擴展邊(EXAFS)信號,揭示材料在真實環(huán)境中的結(jié)構(gòu)演化規(guī)律,為理解構(gòu)效關(guān)系、優(yōu)化材料設(shè)計提供直接依據(jù)。

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  • 近邊X射線吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)譜儀
    近邊X射線吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)譜儀

    X射線吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)(XAFS)譜儀X射線吸收光譜測試主要測量元素K/L吸收邊及其附近的吸收率變化,廣泛應(yīng)用于診斷材料的局域特性,例如核心原子的價態(tài)、 配位數(shù)、位形與鍵長。

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  • x射線吸收譜儀
    x射線吸收譜儀

    X射線吸收譜儀是一種利用同步輻射或?qū)嶒炇襒射線源,通過測量材料對X射線的吸收特性來探測其原子尺度局域結(jié)構(gòu)及電子態(tài)的分析儀器。其核心技術(shù)包括X射線近邊吸收譜和擴展邊精細(xì)結(jié)構(gòu),可精準(zhǔn)解析目標(biāo)元素的化學(xué)價態(tài)...

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  • X射線發(fā)射譜
    X射線發(fā)射譜

    X射線吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)(XAFS)譜儀X射線吸收光譜測試主要測量元素K/L吸收邊及其附近的吸收率變化,廣泛應(yīng)用于診斷材料的局域特性,例如核心原子的價態(tài)、 配位數(shù)、位形與鍵長。

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